A . 爬波探头的外形和结构与横波斜探头类似
B . 当纵波入射角大于或等于第二临界角时，在第二介质中产生爬波
C . 爬波用于探测表层缺陷
D . 爬波探测的深度范围与频率f和晶片直径D有关