当前学科:中级无损检测技术资格人员
  • 题目: 单选
    在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()

      A . A、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大
      B . B、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
      C . C、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小
      D . D、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

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