当前学科:初级无损检测技术资格
  • 题目: 单选
    射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。

      A . 测量缺陷的大小
      B . 测量缺陷的位置
      C . 测量缺陷的几何不清楚度
      D . 确定底片的彩像质量

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