CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）_无损探伤工（初级）_全学科试题题库

当前学科：无损探伤工（初级）

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CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
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