A受检物体尺寸大于FOV的大小，FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧 

B卷褶伪影通常出现在相位编码方向上 

C卷褶伪影通常出现在频率编码方向上 

D增大FOV可有效避免卷褶伪影 

E在相位编码上过度采样能避免褶伪影