当前学科:初级无损检测技术资格
  • 题目: 单选
    由N=D2/4λ可知晶片尺寸增加,近场区长度迅速增加,()。

      A . 对探伤有利
      B . 对探伤不利
      C . 半扩散角增大
      D . 超声波能量发散

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