单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）_无损检测技术资格人员考试_全学科试题题库

当前学科：无损检测技术资格人员考试

题目：单选
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
答案： <查看本题扣1积分>

查看答案

答案不对？请尝试站内搜索

推荐知识点:

软管与家用燃具连接时，其长度不应超过（）。

按中性灰测光曝光，高调被摄体会曝光不足，低调则过度。

关于Internet域名解析的描述中，正确的是（）

春温后期，余邪留伏阴分的热型是（）

下列关于短暂脑缺血发作的诊断要点说法不正确的是（）

肾上腺素与局部麻醉药混合溶液的常用浓度比为（）

塑化量

检查管材、管道连接件的外观质量时，主要查看以下几个方面（）。

设想经过井眼轨迹上每一个点作一条铅垂线，所有这些铅垂线就构成了一个曲面，展平时形成了（）