A . A、厚度大于等于三倍近场长度，工件表面光洁度大于等于3.2μm，探测面与底面平行B . B、厚度大于等于三倍近场长度，工件表面粗糙，探测面与底面平行C . C、厚度小于等于三倍近场长度，工件表面粗糙，探测面与底面不平行
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