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当前学科：机械设计制造及其自动化
题目：
未知类型
半导体应变片在测量某一构件的应变时，引起其电阻相对变化的原因为()。
A、应变片几何尺寸的变化
B、半导体材料的弹性模量的变化
C、半导体电阻率的变化
D、半导体材料压阻系数的变化
答案：
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