当前学科:机械设计制造及其自动化
  • 题目: 未知类型
    半导体应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为()。

      A、应变片几何尺寸的变化

      B、半导体材料的弹性模量的变化

      C、半导体电阻率的变化

      D、半导体材料压阻系数的变化

    答案: <查看本题扣1积分>

    查看答案

    答案不对?请尝试站内搜索