当前学科:无损检测技术资格人员考试
  • 题目: 单选
    CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()

      A . A、测定斜探头K值
      B . B、测定直探头盲区范围
      C . C、测定斜探头分辨力
      D . D、以上全是

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