当前学科:口腔正畸
  • 题目: 多选
    X线头影测量的主要应用有()

      A . ['可研究颅面生长发育
      B . 可对牙、颅面畸形作诊断分析
      C . 可确定错畸形的矫治设计
      D . 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
      E . 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

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